GB/T 2423.24-2013

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GB/T 2423.24-2013是關于《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射》的測試方法。

GB/T 2423.24-2013是GB/T 2423的第24部分，GB/T 2423標準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。

本部分代替GB/T 2423.24 1995《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射》和GB/T 2424.14-1995《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則》。本部分整合了GB/T 2423.24 -1990及GB/T 2424.14 1995的相關內容，與GB/T 2423.24

1995和GB/T 2424.14 --1995相比，主要技術變化和編輯性修改如下：

增加了目次、前言;

——增加了第2章“規(guī)范性引用文件”、第3章“術語和定義”、第10章“試驗報告中應給出的信息”;

——刪除了GB/T 2423.24 1995中4.6對試驗持續(xù)時間的推薦值;

——刪除了GB/T 2424.14 1995第9章“危險和人身安全”;

——刪除了GB/T 2424.14 1995的附錄A“輻射強度調整的計算”、附錄B“經(jīng)基底的熱傳輸”;

——GB/T 2424.14 1995第8章“試驗結果的解釋”轉化為本部分的附錄A，并在內容上做了修改;

——GB/T 2424.14 1990第5章“輻射光源”轉化為本部分的附錄B，并在內容上做了修改;

——GB/T 2424.14-1990第6章“測量儀表”轉化為本部分的附錄C，并在內容上做了修改;

——溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

——光譜能量分布由CIE 20推薦值改為CIE 85推薦值;

——在附錄C中，規(guī)定了采用IS0 4892描述的設備進行本部分規(guī)定的試驗。

本部分采用翻譯法等同采用IEC 60068-2-5：2010《環(huán)境試驗第2-5部分：試驗試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則》。

與本部分中規(guī)范性引用的文件有一致性對應關系的我國文件如下：

——GB/T 2421.1 2008 電工電子產品環(huán)境試驗 概述和指南(IEC 60068-1：1988，IDT)

——GB/T 2423.1 2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫(IEC 60068-2-1: 2007 ,IDT)

——GB/T 2423.2 2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫(IEC 60068-2-2: 2007 ,IDT)

——GB/T 2423.32006 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗(IEC 60068-2-78: 200I,IDT)

本部分與IEC 60068-2-0：2010相比，主要做了下列編輯性修改：

一一本部分的名稱改為：“環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則”;

-IEC原文第2章中的引用文件“CIE 85：1985”年份有誤，應為“CIE 85：1989”，本部分予以更正，見腳注1);

——增加了腳注2);

——更正了表1中紅外線輻照度數(shù)值，由“186 W/1112'’改為“411.62 W/rr12'’，增加了表1的注和腳注6;

——正文中三處升降溫速率由原文的“1 K/min的速率”改為“小于1 K/min的速率”，見條文腳注3)、4)、5);